统计学理论在超大规模集成电路中的应用实践研究_统计与应用研究_世刊出版平台_开源期刊_期刊发表_快速发表_发表论文

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统计学理论在超大规模集成电路中的应用实践研究

统计与应用研究 / 2020,2(1)：30-37 / 2020-05-13 look

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作者：严涛
单位：
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南昌大学，南昌
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关键词：超大规模集成电路；概率统计；电压降
VLSI; Probability Statistics ; IR-drop
摘要：在认真研究电源网格结构的基础上，介绍了一种电压降分析的新方法。这种基于概率统计的方法能够快速简便的估计出电压降的概率分布情况。这种利用概率统计分析电压降的方法在一些电源网格（包括一些工业处理器）中得到了较为理想的结果。
With a thorough research on the structure of power grid, we put forward a new kind of approach to the IR drop problem. This approach is based on probability and statistics, which can give us an outlook of the probability distribution of IR drop. The analysis was carried out on a number of grids, including the power grids of industrial processors and we can see that this approach is very effective.
DOI： https://doi.org/10.35534/rsa.0201005c
引用：严涛．统计学理论在超大规模集成电路中的应用实践研究［J］．统计与应用研究，2020，2（1）：30-37．